4.8 Review

Atomic layer deposition chemistry: Recent developments and future challenges

期刊

ANGEWANDTE CHEMIE-INTERNATIONAL EDITION
卷 42, 期 45, 页码 5548-5554

出版社

WILEY-V C H VERLAG GMBH
DOI: 10.1002/anie.200301652

关键词

atomic layer deposition; microelectronics; nitrides; oxides; thin films

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