☆ 3.8 Article

Alleviation of temperature effects in the Raman micro-spectroscopy of boron doped silicon microstructures

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS (2000)

期刊

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS

卷 19, 期 9, 页码 771-773

出版社

SPRINGER

DOI: 10.1023/A:1006764605146

关键词

-

类别

Materials Science, Multidisciplinary

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