4.7 Editorial Material

Comment on thickness-dependent morphology, microstructure, adsorption and surface free energy of sputtered CeO2 films, by Tan et al. Ceram. Int. 46 (2020) 13,925-13931

期刊

CERAMICS INTERNATIONAL
卷 47, 期 3, 页码 4361-4362

出版社

ELSEVIER SCI LTD
DOI: 10.1016/j.ceramint.2020.09.279

关键词

CeO2; Cerium oxides; XPS; Ce3d spectra; Peak-fitting

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