☆ 4.5 Meeting Abstract

Challenges in Achieving High Resolution at Low Voltages in the SEM

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS (2009)

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期刊

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
卷 15, 期 -, 页码 660-661

出版社

CAMBRIDGE UNIV PRESS
DOI: 10.1017/S1431927609094185

关键词

-

类别

Materials Science, Multidisciplinary Microscopy

资金

  1. United States Department of Energy (DOE) [DE-AC0494AL85000]

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