4.0 Article

Origins of High Mobility and Low Operation Voltage of Amorphous Oxide TFTs: Electronic Structure, Electron Transport, Defects and Doping*

期刊

Journal of Display Technology
卷 5, 期 12, 页码 468-483

出版社

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
DOI: 10.1109/jdt.2009.2034559

关键词

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类别

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