4.4 Article

50+ Years of Intrinsic Breakdown

期刊

IEEE ELECTRICAL INSULATION MAGAZINE
卷 29, 期 2, 页码 8-15

出版社

IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
DOI: 10.1109/MEI.2013.6457595

关键词

intrinsic breakdown; computational quantum mechanisms; DFT; DFPT

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